phoenix nanotom m CT檢測系統

三維計算機斷層掃描

工業X射線三維計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經典應用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。 然而， phoenix| X射線的高分辨率X射線技術開辟了在眾多領域的新應用，如傳感器技術、電子、材料科學以及許多其他自然科學。

SMD感應器的nanoCT®, 尺寸 0805 (2.0 毫米 x 1.2 毫米). 三維X射線圖像顯示了后蓋后的內部線圈。 在任何常規的X光片中，圖層面板都是重疊的，但nanoCT ®成功地將對象逐層顯示。

材料科學

高分辨率計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct)用于檢測材料、復合材料、燒結材料和陶瓷，但也用來對地質或生物樣品進行分析。 材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

玻璃纖維復合材料的nanoCT ®： 纖維氈（藍色）的纖維方向和基質樹脂（橙色）會顯示出來。 右邊: 樹脂內的空洞會以暗腔出現。 左邊： 樹脂已逐漸消失，以更好地使纖維氈可視化。 氈內的單根纖維是可見的。

傳感器和電氣工程

在傳感器和電子元件的檢測中，高分辨率X射線技術主要用于檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測半導體元件和電子設備（焊點），而無需拆卸設備。

nanoCT ®顯示CSP組件的焊接接點。 焊接接點的三維形狀,大約 直徑400微米，空隙分布清晰可見。 焊接接點內部，不同的共晶焊料相是可見的。

測量

用X射線進行的三維測量是可對復雜物體內部進行無損測量的技術。 通過與傳統的觸覺坐標測量技術的對比，對一個物體進行計算機斷層掃描的同時可獲得所有的曲面點 - 包括所有無法使用其他測量方法無損進入的隱蔽形體，如底切。 v|tome|x s 有一個特殊的三維測量包，其中包含空間測量所需的所有工具，從校準儀器到表面提取模塊,具有可能的大精度，可再現且易于使用. 除了二維壁厚測量，CT體數據可以快速方便地與CAD數據進行比較，例如，分析完成元件，以確保其符合所有的規定尺寸。

對氣缸蓋3個裝置的CAD 差異分析和測量。

塑料工程

在塑料工程中，高分辨率的X射線技術用于通過探測縮孔、氣泡、焊接線和裂縫并分析漏洞來優化鑄造和噴涂過程。 X射線計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct)提供具有以下物體特點的三維圖像：如晶粒流模式和填料分布,以及低對比度缺陷。

玻璃纖維增??強塑料樣品的nanoCT ®： 玻璃纖維和礦物填料（紫色）的凝聚體的排列和分布都清晰可見。 纖維大約有10微米寬。

地質 / 生物科學

高分辨率計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct)廣泛用于檢測地質樣品，例如新資源的探索。 高分辨率CT系統以微觀分辨率提供巖石樣本、粘合劑、膠合劑和空洞的三維圖像，并幫助確認特定的樣本特征，如含油巖石中空洞的大小和位置

碳酸鹽中的分段氣孔(ø 2 毫米)