詳細分析便攜測厚儀的測量原理以及系統結構

　　便攜測厚儀是利用XRF原理來分析測量金屬厚度及物質成分可用於材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。它的檢測時間只需要10-30秒即可獲得測量結果，最小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積；測量范圍：0-35um；可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。

 

　　便攜測厚儀的測量原理：

　　物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

 

　　便攜測厚儀系統結構：

　　測量部分的結構：用于照射的X射線是采用由上往下照射方式，用準直器來確定X射線的光束大小。

　　樣品的觀察是利用與照射用的X射線同軸的CCD攝像機所攝制的圖像來確定想要測量的樣品位置。標準配備了多種尺寸的準直器可根據需要調整照射X射線的光束大小來決定測量面積，最小可測量面積是40umф。

 

　　便攜測厚儀的特色：

　　1、非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。

　　2、可測量高達六層的鍍層并可同時分析多種元素。

　　3、全系列*設計樣品與光徑自動對準系統。

　　4、移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差。

　　5、標準配備：溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。

　　6、準直器口徑多種選擇，可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。

　　7、標準ROI軟體：搭配內建多種專業報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告。

　　8、相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告。